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FV-pixellence適合于以LCD為代表的平面面板的點燈檢測，玻璃、膠片、金屬等平面的瑕疵、污垢檢測等，是平面對象物體表面檢測最適合的圖像處理系統。利用FAST獨特的圖像處理技術，可檢出低對比度的缺陷及Shimi、Mura缺陷。也可以用高像素攝像頭、線掃描(line scan)攝像頭或彩色攝像頭作顏色缺陷檢測。利用Windows GUI的手動操作(半自動操作),與PLC等外部控制器連接操作(機械操作)，結合其他周邊配件組成系統(系統操作)或使用多臺FV-pixellence可進行分散處理(多臺操作)。
1.平面面板的綜合缺陷檢測
2.LCD、PDP的點、線Shimi、Mura缺陷檢測
3.OLED的點燈檢測
4.玻璃、膠片的瑕疵、污垢檢測
5.金屬表面的瑕疵缺陷檢測
6.其他平面物體的Shimi、Mura缺陷檢測
特色
1.在灰度變化下的背景可穩定檢測出缺陷
2.穩定檢出低對比度缺陷。(比如以256灰階為單位時，背景和缺陷灰階差異為10也可)
3.根據所登錄的缺陷，可以設定檢測標準
4.應用彩色攝像頭或光學濾鏡可以做彩色缺陷檢測
5.格子等重復背景圖案在前處理時可清除以便檢測
北京市公安局海淀分局備案號：11010802023656號