摘要:存儲芯片是測量儀器的重要組成部分,如果水中兵器裝備中選用的存儲芯片如NAND FLASH存儲芯片因加工工藝而存在壞塊,那么壞塊就可以導(dǎo)致數(shù)據(jù)記錄的不連續(xù)性。本文對NAND FLASH存儲芯片的特性進(jìn)行了分析,定義了壞塊類型,提出了一種通過壞塊識別處理壞塊的方法,可以實(shí)現(xiàn)對FLASH的可靠存儲,實(shí)際工程應(yīng)用表明具有較高的存儲
可靠性。
關(guān)鍵詞:NAND FLASH芯片;存儲;壞塊
在線預(yù)覽:一種存儲芯片的壞塊識別與管理分析