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案例頻道

使用LabVIEW和NI PXI 測試ASIC
  • 企業(yè)：美國國家儀器（NI)有限公司     領(lǐng)域：儀器儀表     行業(yè)：電力    
  • 點(diǎn)擊數(shù)：1823     發(fā)布時(shí)間：2011-07-27 14:26:17
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                                   圖1. 使用DEDIX ASIC進(jìn)行X射線檢測

    "我們的虛擬儀器構(gòu)建在LabVIEW所編寫的專用軟件的基礎(chǔ)上，因此用戶可以設(shè)置適當(dāng)?shù)臏y試配置、ASIC參數(shù)，并讀取數(shù)據(jù)，然后在圖形化用戶界面上顯示分析后的結(jié)果。正是由于基于NI產(chǎn)品構(gòu)建的這個(gè)系統(tǒng)方案，使得我們可以節(jié)省一年的測試時(shí)間。"

    – Piotr Maj, AGH University of Science and Technology

    The Challenge:

    設(shè)計(jì)和測試針對物理學(xué)和生物學(xué)應(yīng)用中的專用集成電路(application-specific integrated circuits, ASIC)。

    The Solution:

    使用NI LabVIEW軟件和PXI硬件創(chuàng)建虛擬儀器，以盡可能快地測試ASIC 

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